NI LabVIEW

Testprogrammierung mit National Instruments LabVIEW

National Instruments stellt mit LabVIEW einen Industriestandard zur Entwicklung einer Testumgebung zur Verfügung.
Unsere Mitarbeiter verfügen über langjährige Erfahrung auf vielen Gebieten dieser Entwicklungsumgebung.

Unser Schwerpunkt liegt im Bereich automatische Testsysteme.

• Erstellung einzelner VIs (virtuelle Instrumente)
• Entwicklung von Bedienoberflächen
• Integration externer Hardware wie Programmiergeräte, Power Supplies
• CAN, CANopen und sonstige Protokolle
• Einbindung von Scriptdateien zur Teststeuerung - für Testablaufsänderungen ohne LabVIEW-Kenntnisse
• Statemachines / Sequencer zur Ablaufsteuerung der Test-VIs
• Erstellung von .NET-Assemblies zur Integration in Aeroflex AIDE
• VIs für TestStand-Applikationen
• RIO (rekonfigurierbare IOs mit NI-RIO-FPGA-Hardware)
• Einrichtung der Erzeugung von Logdateien

NI TestStand

Automatisches Testen mit National Instruments TestStand

TestStand von National Instruments ist eine Standardsoftware für automatisiertes Testen. Hier können über die Integration verschiedenster Hardware- und Softwaremodule (z.B. LabVIEW-VIs, C#-Module) komplexe, variable Testsysteme aufgebaut werden. Erstellte LabVIEW-VIs können wir einfach in TestStand für einen produktspezifischen Testablauf integrieren. Alle Funktionen, die bei einem automatischen Testablauf erforderlich sind, sind verfügbar. Parameter sind in der TestStand-Umgebung veränderbar. Die Benutzeroberfläche kann an Ihre Bedürfnisse angepasst werden.

Einige Highlights von TestStand:

• Paralleles Testen
• Integration von PXI-Meß-, Stimuli- und Kommunikationskarten
• Optimierung der Ablaufsteuerung
• Integration Datalogging

Aeroflex AIDE

Aeroflex AIDE

Diese Programmierumgebung für analoge und digitale InCircuit- und Funktionstest ermöglicht eine hohe Testtiefe bei der Realisierung der Prüfaufgaben. Wir verfügen über langjährige und umfassende Erfahrungen im Umgang mit AIDE.

• Erstellung des ICT-Programms mit CAPG
• Einfügen in einen geeigneten Programmrahmen
• Anpassen der Pinmaps
• Debuggen des ICT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Programmierung des Funktionstestprogramms
• Debuggen des FKT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Implementierung des Göpel-Boundary Scan CASCON
• Programmierung von Zusatztools, Libraries und .NET Treiber
• Integration zusätzlicher PXI-Hardware

Aeroflex TPG

Aeroflex TPG

Diese Programmierumgebung für analoge und digitale InCircuit- und Funktionstest wurde für die Testergeneration 52xx und 5300 entwickelt. Seit bereits 25 Jahren sind wir im Bereich der Testprogrammentwicklung für diese Testsoftware tätig und verfügen über ein sehr breites Fachwissen unterschiedlichster Anwendungen.

• Erstellung des ICT-Programms mit eigenem Tool oder manuell (AIC oder UTP)
• Einfügen in einen geeigneten Programmrahmen (Einzeltests, Mehrfachnutzen)
• Debuggen des ICT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Programmierung des Funktionstestprogramms
• Debuggen des FKT-Programms (ggf. auch vor Ort)
• Programmierung von Zusatztools und Libraries
• Integration zusätzlicher Programier-Hardware

.NET und C#

.NET und C#

Die Programmiersoftware C# unter .NET ermöglichen die Entwicklung von Testprogrammen und Zusatzkomponenten.

• Eigenständige Testprogramme (in C# entwickelt)
• Entwicklung von Kommunikationsprotokollen
• Testprotokolle in kundenspezifischen Formaten (z.B. XML)
• Entwicklung von Tools für Testdiagnosen u.ä.
• .NET-Libraries für C# und AIDE
• Integration zusätzlicher Hardware z.B. PXI-Karten in das Testsystem Aeroflex 5800

TOPTEST DrillView

DrillView

DrillView dient der Erstellung und Anzeige von Testpunktplänen aus CadDaten

• Zur Visualisierung und Erstellung von Adapter-Bohrdaten, Testpunktplänen, sowie Unterstützung beim Verdrahten wurde DrillView in unserem Hause entwickelt.
• Flexible auch frei programmierbare Filter ermöglichen es nahezu alle Netzlisten-Datenformate einzulesen und zu verarbeiten.
• X-, Y-Koordinaten und Bezeichner des Testpunktes werden im Format 1:1 dargestellt. Der Ausdruck erfolgt über Windows-Druckertreiber ebenfalls in 1:1.
• Die Darstellung der Testpunkte wird in der für jeden freien Punkt definierbaren Bohrergrösse dargestellt.
• Frei wählbare Positionierung der Nutzenanordnung ermöglicht jede Anwendungsform von Mehrfachnutzen.
• Die Abstände zwischen den Punkten werden berechnet und können bei einen bestehenden Konflikt, dessen Schwellwert einstellbar ist, angezeigt werden. So wird sichergestellt, dass beim Adapter erstellen es zu keinen Fehlern kommt.
• Eine Demoversion ohne Speicherfunktion steht zum Herunterladen zur Verfügung

Download der Demo-Version